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低含量碳硫在高頻紅外分析中的影響因素

時間:2015-11-20  點擊量:4229

    隨著(zhu)科技(ji)的發展以及(ji)金(jin)屬(shu)材料的快速發展,各(ge)個(ge)行業以及(ji)各(ge)種產品(pin)對金(jin)屬(shu)材料的要(yao) 求越(yue)來(lai)(lai)越(yue)高,對金屬中(zhong)低(di)含量碳硫的(de)分析要求也(ye)越(yue)來(lai)(lai)越(yue)嚴格。特(te)別是某(mou)些特(te)種鋼材對碳的(de)要 求都(dou)在0.00X甚(shen)至更低。碳(tan)硫分析有多種方法(fa),如(ru)質量法(fa)、氣(qi)體容(rong)量法(fa)等,這些方法(fa)依靠的 是化(hua)學原(yuan)理。而高頻燃燒紅外吸收法,依靠的是物理原(yuan)理,沒有化(hua)學分析(xi)冗(rong)長繁瑣的操作, 人為因素小,省時(shi)省力。以其(qi)操作(zuo)簡(jian)便、自動化程度高、分析時(shi)間短、精度高、性能(neng)穩定而 得到廣泛應用。力可公司(si)推出(chu)的(de)CS444紅(hong)外碳硫(liu)分析儀,在低碳低硫(liu)的(de)分析上,具有更大的(de) 優越性。下面采(cai)用(yong)此儀(yi)器,對(dui)影響分析精密(mi)度及準(zhun)確度的因素(su)進行了討論。
1
空白值的影響因素
       
在分析(xi)高(gao)含量碳、硫時,其它因素(su)對待(dai)測樣(yang)品zui終結(jie)果雖(sui)然有一定影(ying)響,但由于樣(yang)品碳、硫 含量高,所以影響(xiang)不大。在分析低碳、低硫或超低硫時,往(wang)往(wang)因系統在吸(xi)附CO2SO2 體的同時又釋(shi)放(fang)CO2SO2氣體,加上(shang)助(zhu)熔劑(ji)、助(zhu)燃氣體、坩堝中碳(tan)、硫(liu)的存在以(yi)及(ji)試樣 加工時的污染,在分析低(di)含量(liang)樣品時會(hui)引進本(ben)底影響,這些影響總稱(cheng)做(zuo)系統空白值。因低(di)碳 低硫(liu)的(de)含量(liang)與(yu)空(kong)白值(zhi)基本相(xiang)當,有時空(kong)白值(zhi)甚至會大于被分析樣(yang)品的(de)碳、硫(liu)含量(liang)。因為空(kong)白 值不僅影(ying)響(xiang)測定(ding)下限,也影(ying)響(xiang)靈敏度與精密度,因(yin)此(ci)要求在(zai)測量(liang)中盡(jin)量(liang)降低空白值,那么必 須對加(jia)工過的(de)試樣、坩堝(guo)、助熔劑、氧氣進行處理,以求降低空白值(zhi),提高分析的(de)精密度和 準(zhun)確度。試(shi)樣(yang)加工時的污染可(ke)以通過(guo)采用有(you)機溶劑(ji)洗滌試(shi)樣(yang)而基本(ben)除掉(diao)。另外 ,粉塵的干擾也是影響碳、硫分(fen)析精度及準確度的重要(yao)因素。
1.1
坩堝

    陶瓷坩堝的主要成分是氧化(hua)鋁和氧化(hua)硅(gui),除(chu)本(ben)身原料及制做過(guo)程中所帶來的空白外,陶瓷坩 堝具(ju)有一定的吸附性,表面容(rong)易(yi)吸附空氣中的水(shui)份和二氧化碳(tan)和二氧化硫(liu),其中的水(shui)份在燃 燒時(shi),吸收(shou)一定熱量汽化(hua)后,能(neng)吸收(shou)二(er)(er)氧化(hua)硫(liu),降低二(er)(er)氧化(hua)硫(liu)的轉化(hua)率(lv)。未經過處(chu)理(li)的坩堝 都(dou)會含(han)有碳或(huo)硫且(qie)不均勻(yun),無論對高含(han)量(liang)(liang)碳硫分(fen)(fen)析或(huo)對低含(han)量(liang)(liang)碳硫分(fen)(fen)析都(dou)會造成影響。一種 方法是坩堝(guo)在(zai)1 300馬弗爐內灼燒2h,另一(yi)種方法是(shi)將預先灼燒好(hao)的坩堝加入鎢(wu)鐵(tie)助(zhu)熔 劑經高頻燃燒一次,冷卻后(hou)再使用。不同狀態下,坩堝中殘存(cun)碳硫(liu)的試驗情況見表1

從上(shang)表的數據(ju)可以看出,未經過任何處理的坩堝中的殘存碳硫含量遠遠高于(yu)處理過的坩堝。 而后兩種坩堝(guo)中又以經過1 300灼燒的坩(gan)堝(guo)中殘存(cun)碳硫含量為(wei)zui低。
1. 2
助熔劑
 
    進行低碳低硫測定前應消除助熔劑(ji)表面吸附的(de)雜質氣(qi)體。消除雜質氣(qi)體的(de)方法是把(ba)鎢粒先(xian)放 入烘箱內450±10烘烤2h,在干燥器中(zhong)冷卻,再放入磨口瓶內備用(yong)。表2是烘烤和未經(jing) 烘烤鎢粒(li)的(de)對比(bi)試驗。


1.3
氧氣

    低(di)碳低(di)硫分析所用氧氣應該為高純氧或(huo)在進入儀器(qi)之(zhi)前先通過凈化裝置(裝有過氯酸(suan)鎂和 分(fen)子篩)除去有機雜質(zhi),再用干(gan)燥劑和(he)二氧化碳(tan)吸收(shou)劑除去水分(fen)和(he)二氧化碳(tan)。由于 實驗(yan)條件所(suo)限,在此引(yin)用太(tai)鋼鋼研所(suo)對碳(tan)分(fen)析(xi)比(bi)對結(jie)果,見表3

從上(shang)面的分析(xi)結果(guo)可以看出,在儀器外加氣(qi)體凈化裝置,分析(xi)結果(guo)略(lve)好。
1.4
粉(fen)塵 

    有文(wen)獻指出,在低硫分析過程中,粉塵(chen)干擾會(hui)使結果(guo)偏(pian)高。粉塵(chen)干擾是可(ke)能存(cun)在的,因為紅 外光(guang)源(yuan)照射時,粉塵的(de)存在會出現(xian)擋(dang)光(guang)、散射、干(gan)涉等光(guang)學干(gan)擾。這種(zhong)干(gan)擾造成吸收(shou)信號(hao)值 的增加,產生(sheng)正干擾。
1.5
標定(ding)

    另外,國內目前(qian)一(yi)般采(cai)用硫(liu)酸鹽基準(zhun)物來標定儀器。這樣(yang)會與(yu)被分析物產(chan)生基體間的差異, 從而(er)導(dao)致(zhi)分(fen)析(xi)時出峰的(de)時間差(cha)異,影響硫的(de)分(fen)析(xi)結果。表4的(de)結果可以說明這個問題。

根(gen)據(ju)上(shang)表中的數據(ju)可知(zhi),S%0.0114個(ge)標樣中(zhong),測定值(zhi)8個偏低,4個偏高。
2
.分析條(tiao)件的選擇
2.1
準(zhun)確測(ce)定扣除空(kong)白值(zhi)

    空白值的(de)測(ce)定方(fang)法有兩(liang)種(zhong),一種(zhong)是直(zhi)接法,即直(zhi)接測(ce)定坩堝(guo)及助(zhu)熔劑(ji)的(de)碳硫量作為空白值; 另一種(zhong)是間接法,即測定(ding)坩堝、助(zhu)熔劑及相應低(di)碳(tan)低(di)硫標樣的碳(tan)硫含量,空白值等(deng)于測定(ding)值 與已(yi)知標樣值(zhi)之(zhi)差。因直接法在測量(liang)空(kong)白(bai)時和(he)分析樣品時燃燒溫(wen)度差異(yi)較(jiao)大,引進(jin)空(kong)白(bai)值(zhi)也(ye) 存在(zai)較大差異,而間(jian)接法因低碳低硫(liu)標(biao)樣的加入(ru)會(hui)使感(gan)應(ying)電流、感(gan)應(ying)溫度(du)明顯(xian)升高,致使坩 堝材料內(nei)部的碳(tan)硫元(yuan)素在分析過程中(zhong)逐(zhu)步釋(shi)放出(chu)來,故(gu)間接(jie)法(fa)測(ce)得的空白值相應要比直接(jie)法(fa) 高(gao)。空(kong)白扣除值與(yu)稱(cheng)量(liang)(liang)設置成反比例關系,不同的(de)(de)樣(yang)品稱(cheng)量(liang)(liang)應扣除不同的(de)(de)空(kong)白值,即:

式中(zhong):k1被(bei)測樣品扣(kou)除的空白值;
k
2間(jian)接法測得(de)的空(kong)白值;
m
2間接法測空白(bai)時的標樣(yang)的稱量(g);
m
1被測樣(yang)品的稱量(g)。[ZK)
分(fen)析前應(ying)先預(yu)燒幾個廢樣(yang),使儀器(qi)的氣路達到(dao)飽(bao)和,然后按間接法進(jin)行分(fen)析三次(結果(guo)未超(chao) 差(cha)),使用自動(dong)空(kong)白程序設置(zhi)稱量及空(kong)白值,扣除空(kong)白值。
2.2
助熔劑種類及加(jia)入方式

    樣(yang)品燃燒是分析成敗的關鍵,為了提高(gao)回收率并且得到穩定(ding)的數據,助熔劑的加入是必不可 少的(de)(de)。助(zhu)熔劑(ji)的(de)(de)種類(lei)、用量及加入(ru)的(de)(de)順序對碳、硫含量的(de)(de)測定結果非常重要(yao)。

    鎢粒(li)及(ji)其合金(如鎢——錫(xi)、鎢————錫)等是高(gao)頻爐常用(yong)的助(zhu)熔(rong)劑。鎢粒可提供較高(gao) 熱值(zhi),具(ju)有較好(hao)的(de)透(tou)氣性(xing),燃(ran)燒不飛(fei)濺(jian),具(ju)有降低(di)碳硫分(fen)析結果的(de)作用(yong),其燃(ran)燒后生(sheng)成酸性(xing) 的三氧化(hua)鎢,對(dui)消(xiao)除硫的吸附有較(jiao)好(hao)的效果;錫粒(li)在使用中加入(ru)不宜多,有時(shi)與MoO3同時加入以消除SnO2粉塵對硫(liu)吸附的影響。另外MoO3在(zai)500熔融中起攪拌作(zuo)用,且與鐵形成(cheng)鉬酸(suan)鐵,大大減少(shao)了氧(yang)化鐵的形成(cheng);純鐵也是一種很好的助(zhu)熔(rong)劑,但(dan)由于碳硫的空白不(bu)理 想,在用低(di)含量碳(tan)硫(liu)時要(yao)注意使(shi)用。一般而言,分析(xi)鋼鐵中的(de)碳(tan)硫(liu),采(cai)用鎢(wu)——錫(xi)助熔劑;分析硅 鐵采(cai)用鎢————錫助熔劑(ji);分(fen)析銅中的(de)微量(liang)硫采用(yong)鐵屑助熔劑(ji)等。
另外(wai),有(you)(you)文章指出,加入(ru)助熔劑的次序對(dui)碳硫釋放(fang)有(you)(you)一定影響,這(zhe)里不做討論。
2.3
標準樣品(pin)的選擇

    作為一項準確的(de)分(fen)析方法,應當(dang)用純化合物作為基準已經(jing)成(cheng)為共識,但純化合物和鋼樣燃燒 釋放情況不一致,應(ying)當采(cai)用分析什(shen)么(me)材料,用該材料的基(ji)準物(wu)質來校正,遵(zun)循選擇標準樣品(pin) 與(yu)試(shi)樣含量(liang)相(xiang)近(jin)或相(xiang)當,同時還要考(kao)慮被測組分與(yu)標準樣品的基體(ti)相(xiang)似(si)以及第三(san)元(yuan)素的影響(xiang)
2.4
分(fen)析時(shi)間(jian)的設定
2.4.1
由于(yu)管壁(bi)的(de)氣體吸附和釋放處于(yu)動態(tai)(tai)平衡狀態(tai)(tai),當分析(xi)高含量(liang)樣品時(shi),CO2SO2 濃度高,管(guan)(guan)壁吸附增加(jia),在(zai)分析低含量(liang)樣品時(shi)或(huo)通(tong)純氧取(qu)基準信號時(shi),管(guan)(guan)道內壁吸附的氣體(ti) 逐漸釋放,勢(shi)必影(ying)響基準信號的去值(zhi)或低含量分(fen)析的準確度(du),所以(yi)在每次樣品分(fen)析前,對(dui) 系統進行(xing)通(tong)純氧(yang)清洗(xi)(xi),清洗(xi)(xi)時間的(de)長(chang)短即為吹(chui)氧(yang)時間,一(yi)般設定15s,低含(han)量為2025s
2.4.2
zui短分析時(shi)間的設定(ding)。分析低含(han)量樣品(pin),觀察釋放曲線,如果曲線尾巴(ba)截的過多,則需增加時(shi)間,反之若拖(tuo)得(de)太長 ,需要相應減少時間(jian)。

另外,試樣、助熔劑的形狀、稱量及比(bi)例搭配對(dui)分析結果的精密度(du)和(he)準確度(du)也有一定程度(du)的 影(ying)響。
3
結(jie)論

    本文對(dui)測(ce)定金屬中低(di)含量(liang)碳硫的(de)各個(ge)影(ying)響因素進行了探討,認為在對(dui)低(di)含量(liang)碳硫進行測(ce) 定時(shi),要(yao)想得(de)到準確結果,只有針(zhen)對待測樣品的具體(ti)情況,正確處理(li)各(ge)個環節,才能獲得(de)準 確的分析結(jie)果。這種方法已經應用到了(le)日(ri)常分析中(zhong),效果比(bi)較令人滿意。